Записи с меткой "США (NIST)"

В популярных смартфонах обнаружена критическая уязвимость

Опубликовал 4 ноября 2014 в рубрике Новости, Техника. Комментарии: 0

Американские исследователи обнаружили критическую уязвимость в программном обеспечении смартфонов Samsung. Об этом сообщает Computerworld.

Стр. 1 из 1   1